Aparatura
System do analizy półprzewodników Keithley 4200-SCS
Osoba kontaktowa:
Mazur Tomasz
Opis techniczny:
System pomiarowy Keithley 4200-SCS jest modularnym, zintegrowanym rozwiązaniem pomiarowym przeznaczonym do badań materiałów, elementów półprzewodnikowych oraz związanych z nimi procesów. Urządzenie zapewnia pełną charakte…
Elipsometr spektroskopowy
Osoba kontaktowa:
Mazur Tomasz
Opis techniczny:
Elipsometr spektroskopowy SER-850 jest urządzeniem działającym w zakresie od ultrafioletu do bliskiej podczerwieni, służącym do pomiaru grubości oraz podstawowych właściwości optycznych cienkich warstw oraz struktur wielowarstwowych. Urządzenie pozw…
